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直接检眼镜产品描述:通常由照明系统和观察系统组成。照明系统包括灯泡、聚光镜和反射镜。观察系统包括窥孔和聚焦补偿系统。 直接检眼镜预期用途:用于检查视网膜。 直接检眼镜品名举例:直接检眼镜、广角检眼镜 直接检眼镜管理类别:Ⅱ 直接检眼镜相关指导原则: 1、直接检眼镜注册技术审查指导原则 直接检眼镜相关标准: 1 ...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年04月27日
检测项:漏鞭率检测 检测样品:烟花爆竹机械设备-爆竹插引机 标准:AQ4111-2008 烟花爆竹作业场所机械电器安全规范 AQ4109-2008 烟花爆竹机械 爆竹插引机
机构所在地:湖南省浏阳市
检测项:漏液与变形 检测样品:镍金属氢化物电池 标准:含碱性或其它非酸性电解质的二次电池和蓄电池组.便携式密封可再充电单电池.第2部分:镍金属氢化物电池 IEC 61951-2-2003
机构所在地:广东省惠州市
检测项:密封性能试验 检测样品:滚动轴承零件 标准:滚动轴承 密封深沟球轴承防尘、漏脂、温升性能试验规程 JB/T8571-2008
检测项:密封性能试验 检测样品:滚动轴承零件 标准:滚动轴承 密封深沟球轴承防尘、漏脂、温升性能试验规程 JB/T8571-2008
机构所在地:辽宁省瓦房店市
检测项:漏源极截止电流IDSS 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:静态漏-源通态电阻RDS 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:漏源击穿电压 V(BR)DSS 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
机构所在地:湖北省孝感市
检测项:外观检查与尺寸测量 检测样品:石油管材和钻井工具及钻采设备 标准:《钢管漏磁探伤方法》 GB/T12606-1999
检测项:电磁检测 检测样品:石油管材和钻井工具 标准:《钢管漏磁探伤方法》 GB/T 12606-1999
机构所在地: